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解決LED顯示屏三高一低技術(shù)難題
LED顯示屏急需解決的主要技術(shù)問題，歸結(jié)為“三高一低”，即高光效、高顯色性、高可靠和低成本的技術(shù)問題，實(shí)現(xiàn)低成本其實(shí)質(zhì)也是技術(shù)問題。本文主要講訴采取的技術(shù)路線及其方向，希望通過這篇文章能對(duì)led行業(yè)企業(yè)家在產(chǎn)品的創(chuàng)新上有所幫助。
2012-10-31
LED顯示屏
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提高LED顯示屏遠(yuǎn)距離通訊穩(wěn)定性的有效方法
眾所周知，數(shù)據(jù)傳輸是工業(yè)控制領(lǐng)域一個(gè)非常重要的環(huán)節(jié)，數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定程度直接影響到產(chǎn)品的可靠性。因此如何提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)目煽啃院头€(wěn)定性便成為工程師不得不面對(duì)的課題。下面以本公司的LED生產(chǎn)看板顯示屏項(xiàng)目實(shí)施過程中出現(xiàn)的問題為例闡述一下在使用RS-485作為遠(yuǎn)距離數(shù)據(jù)通訊手段時(shí)要注意的事項(xiàng)。
2012-10-31
LED
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脈搏測(cè)量?jī)x
【導(dǎo)讀】本文主要討論脈搏測(cè)量?jī)x電路工作原理 、脈搏測(cè)量?jī)x軟件設(shè)計(jì)、脈搏測(cè)量?jī)x安裝與調(diào)試 及其解決方案。
2012-10-31
單片機(jī) 脈搏 測(cè)量
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NI推薦選擇硬件在環(huán)（HIL）測(cè)試系統(tǒng)I/O接口
高性能模塊化的I/O接口是構(gòu)建成功硬件在環(huán)測(cè)試系統(tǒng)所必須的。硬件在環(huán)（HIL）測(cè)試系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)教程討論了多種硬件在環(huán)測(cè)試系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)和用于實(shí)現(xiàn)的實(shí)時(shí)處理技術(shù)。本教程討論了多種I/O接口選項(xiàng)，能夠用于實(shí)時(shí)處理器創(chuàng)建您的硬件在環(huán)測(cè)試系統(tǒng)。
2012-10-31
NI 硬件 測(cè)試
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電子負(fù)載應(yīng)用于檢測(cè)設(shè)備測(cè)試中
隨著電子市場(chǎng)的發(fā)展，其前景是毋庸置疑的，而與之相輔相生的電子測(cè)量?jī)x表儀器設(shè)備也得以廣泛應(yīng)用。就在LED驅(qū)動(dòng)、電源模塊測(cè)試、充電器生產(chǎn)及UPS生產(chǎn)等領(lǐng)域廣泛使用的直流電子負(fù)載而言，其已經(jīng)成為了這些領(lǐng)域必不可少的測(cè)試設(shè)備。
2012-10-31
電子負(fù)載 檢測(cè)設(shè)備 測(cè)試
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如何測(cè)試小型存儲(chǔ)器陣列
隨著半導(dǎo)體工藝不斷地進(jìn)步，那些原本存在芯片中的大型存儲(chǔ)器會(huì)轉(zhuǎn)變成數(shù)十或數(shù)百個(gè)小型的存儲(chǔ)器陣列，并且散布在芯片中各個(gè)角落。針對(duì)這種類型的小型陣列，如果想要偵測(cè)出與速度相關(guān)的瑕疵以及固定邏輯(stuck-at)故障，其實(shí)并不是一件容易的事。
2012-10-31
測(cè)試 小型 存儲(chǔ)器陣列
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相互調(diào)變失真的測(cè)量方法
在發(fā)射(Tx)路徑上的相互調(diào)變失真是附加在高功率之中，它的特性很重要。由于在發(fā)射路徑上一般都沒有主動(dòng)組件存在，因此它的相互調(diào)變失真特性被稱為“被動(dòng)的相互調(diào)變失真(passive IMD;PIMD)”。當(dāng)設(shè)計(jì)一個(gè)無(wú)線通信電路時(shí)，PIMD在每一個(gè)功能單元中的變化不大，所以，在研發(fā)階段就會(huì)先測(cè)量PIMD。
2012-10-31
相互調(diào)變失真 測(cè)量方法
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是什么影響電阻和電阻率測(cè)試
影響電阻或電阻率測(cè)試的主要因素有：環(huán)境溫濕度、測(cè)試電壓、測(cè)試時(shí)間、測(cè)試設(shè)備的泄漏以及外界干擾等。本文重點(diǎn)談?wù)勆鲜鑫宕笠蛩亍?/p>
2012-10-31
影響 電阻 電阻率測(cè)試 主要因素
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VIO的開環(huán)測(cè)試電路
輸入失調(diào)電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡(jiǎn)稱比較器)一個(gè)重要的電性能參數(shù)，GB/T 6798－1996中，將其定義為“使輸出電壓為規(guī)定值時(shí)，兩輸入端間所加的直流補(bǔ)償電壓”。傳統(tǒng)測(cè)試設(shè)備大都采用“被測(cè)器件(DUT，Device Under Test)－輔助運(yùn)放”的測(cè)試模式。
2012-10-31
VIO 開環(huán)測(cè)試電路
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