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element14推出新款背板連接器系統(tǒng)FCI XCede
融合電子商務與在線社區(qū)的電子元件分銷商e絡盟及其母公司element14今天宣布將銷售FCI XCede的背板連接器和直角子卡插座。XCede?連接器系統(tǒng)具有25Gb/s的先進性能，可以為工程師設計的設備平臺提供清晰的長期遷移路徑，實現(xiàn)更高速的信號處理及更高性能。
2011-12-19
芯片 連接器
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電子信息產業(yè)：競爭壓力巨大 缺乏新增長點
2011年我國電子信息產業(yè)的整體發(fā)展情況可以表述為“持續(xù)平穩(wěn)增長”與“亟待轉型升級”。展望2012年，我國電子信息產業(yè)面臨著復雜多變的國內外形勢，既有基礎行業(yè)快速增長、國內信息化建設全面深化、產業(yè)轉移及布局優(yōu)化調整積極效應開始顯現(xiàn)等有利因素，又有國際市場需求持續(xù)疲軟、產業(yè)競爭程度不斷加劇...
2011-12-14
電子信息產業(yè) 電子信息 電子
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探討串聯(lián)鋰離子電池組監(jiān)測系統(tǒng)的設計
具有高電壓、高容量、循環(huán)壽命長、安全性能好等優(yōu)點的鋰離子電池，在便攜式電子設備、電動汽車、空間技術、國防工業(yè)等多方面具有廣闊的應用前景。由若干節(jié)鋰離子電池經串聯(lián)組成的動力鋰離子電池組目前應用最為廣泛。
2011-12-12
電池 鋰離子 串聯(lián) 監(jiān)測系統(tǒng)
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常用信號完整性的測試手段和在設計的應用
信號完整性設計在產品開發(fā)中越來越受到重視，而信號完整性的測試手段種類繁多，有頻域，也有時域的，還有一些綜合性的手段，比如誤碼測試。本文對各種測試手段進行介紹，并結合實際硬件開發(fā)活動說明如何選用，最后給出了一個測試實例。
2011-12-09
信號完整性 測試
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影響電阻或電阻率測試的主要因素
本文介紹影響電阻或電阻率測試的五大主要因素，包括：環(huán)境溫濕度、測試電壓（電場強度）、測試時間、測試設備的泄漏和外界的干擾。
2011-12-09
電阻 電阻率 測試
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十二五物聯(lián)網最受寵，智能電網與醫(yī)療商機大
全球市場景氣直落，歐洲國債危機遲遲不解，使得先進國家政府急于緊縮銀根，紛紛放緩國內投資計劃。而中國大陸大手筆投資以ICT產業(yè)為主的七大戰(zhàn)略性目標，企圖擴大內需市場趁勢而起。在陸續(xù)出臺的「十二五規(guī)劃綱要」執(zhí)行項目中，物聯(lián)網將是受惠最大的項目之一。
2011-12-08
物聯(lián)網 智能電網 智能醫(yī)療 醫(yī)療
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高速數(shù)據應用中 ESD 抑制技術簡介【空氣間隙技術】
高清電視及顯示器的發(fā)展加速提高了信號傳輸速率,除此之外，USB 2.0以及USB 3.0等高速串行協(xié)議的應用也使信號速率在不斷提高。隨著信號速率的提高，以前傳統(tǒng)的ESD保護技術已顯得過時，多層壓敏電阻、硅二極管的高電容、漏電流以及鉗位電壓已經不能提供準確可靠的保護，以保證高速信號不發(fā)生明顯的信...
2011-12-06
高速數(shù)據 ESD 抑制 空氣間隙
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ADIS16488：ADI推出戰(zhàn)術級10自由度MEMS IMU用于軍用和醫(yī)療設備
Analog Devices, Inc. (ADI)，全球領先的高性能信號處理解決方案供應商，最近正式全面推出第三代iSensor? MEMS IMU（慣性測量單元）ADIS16488，這是一款戰(zhàn)術級10自由度(DoF)傳感器，在單封裝中集成一個三軸陀螺儀、一個三軸加速度計、一個三軸磁力計和一個壓力傳感器。新款MEMS IMU提供最穩(wěn)定、最完...
2011-12-05
ADI MEMS ADIS16488 IMU 傳感器 陀螺儀
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飛思卡爾i.MX53應用處理器等多款產品贏得EDN China年度創(chuàng)新獎
飛思卡爾半導體日前宣布其包括i.MX53在內的多款產品榮膺《電子設計技術》（EDN China）雜志2011年度創(chuàng)新獎。其中，i.MX53高性能應用微處理器榮獲應用微處理器類別最佳產品獎；同時，來自飛思卡爾的其它四款產品分別在相關類別獲得優(yōu)秀產品獎，包括面向工業(yè)和網絡應用的入門級通信處理器MPC8309、MM9...
2011-12-02
飛思卡爾 i.MX53 EDN China
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